产品介绍:纳米粒度及zeta电位分析仪是用来测试CMPSlurry纳米颗粒粒度分布和zeta电位值的分析仪,粒度分布会影响药液的CMP效率,zeta电位值的大小用来表征药液整体稳定性,zeta电位的越大,药液稳定性越高。测试SiO2、Al2O3等药液粒度分布D10、D50、D90等参数。
原理介绍:
1、粒度测量
动态光散射(DLS)法原理:当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时,由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移,导致散射光信号随时间发生动态变化,该变化的大小颗粒的布朗运动速度有关,而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小,颗粒大布朗运动速度低,反之颗粒小布朗运动速度高,因此动态光散射技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律,使用光子探测器在固定的角度采集散射光,通过相关器进行自相关运算得到相关函数,再经过数学反演获得颗粒粒径信息。
2、ZETA电位测量
ZETA电位是表征分散体系稳定性的重要指标ZETA电位愈高,颗粒间的相互排斥力越大,胶体体系愈稳定,因此通过电泳光散射法测量ZETA电位可以预测胶体的稳定性。
测量角度:175°、90°、11°
粒度范围:0.3nm-15μm
ZETA电位范围:-600mV - +600mV
最大电导率:270mS/cm
粒径范围:3nm~120μm
激光器:15/50mW 532nm